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BEEM > Devices and Methods > Raster-EM (REM)

Rasterelektronenmikroskope (REM)

1. Zeiss Supra 55 VP

Standort und Geräteverantwortliche:

  • Zeiss Supra 55 VP FEG-SEM mit Variable Pressure Mode (VP-Mode), EDX, WDX und EBSD (Gebäude H, Raum -1.24D, verantwortlich: Jens Timmermann, Tel.: -4575, Vertretung: Tobias Krekeler, Tel.:-4667 und Martin Ritter, Tel.: -3543)

Standort und Geräteverantwortliche:

  • Leo Gemini 1530 (Umgerüstet durch Point Elektronik) FEG-REM mit EDX
    (Gebäude M, Raum 3526, Tel.: 2320, verantwortlich: Tobias Krekeler, Tel.: -4667, Vertretung: Martin Ritter Tel.: -3543,)

Wichtige Links:

Buchungs- und Abrechnungssystem für die Elektronenmikroskopie (BASE). BASE ist eine Eigenentwicklung der BEEM und dient der Online Terminbuchung und projektbezogenen Abrechnung der angefallenen Kosten.

In unserem BEEM Wiki finden Sie informationen rund um die Mikroskope und Methoden der BEEM.

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21073 Hamburg
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Phone : ++49 40 42878 3544
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