BEEM: Raster-EM (REM)

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Unsere Rasterelektronenmikroskope (REM)

1. Zeiss Supra VP 55

Das Zeiss Supra VP 55 ist ein REM mit Feldemissionskathode (FEG) und hoher Auflösung sowie „Variable Pressure“ Modus (VP). Neben einem EDX Detektors zur Elementanalyse ist es noch mit einem wellen-dispersivem Röntgenspektrometer (WDX) und einem EBSD (Electron Backscatter Diffraktion) Detektor ausgestattet.

Mehr erfahren über das Zeiss Supra VP 55

Standort und Geräteverantwortliche

Standort: Gebäude H in Raum -1.24D, Durchwahl: -4855

1. Geräteverantwortliche: Jens Timmermann, Durchwahl: -4575

2. Geräteverantwortliche: Andrea Bluhm, Durchwahl: -4881

2. Leo 1530 (FEG-REM)

Das Leo 1530 ist ein REM mit Feldemissionskathode (FEG) und hoher Auflösung. Neben einem EDX Detektors zur Elementanalyse besitzt es einen speziellen Rückstreudetektor, der 3D-Rekonstruktionen der Probenoberfläche ermöglicht.

Technische Details und Features des Leo 1530

Standort und Geräteverantwortliche

Standort: Gebäude M in Raum 3526, Tel.: -2320

1. Geräteverantwortlicher: Andrea Bluhm, Tel.: -4881

2. Geräteverantwortlicher: Dagmar Rings, Tel.: -3092

Wichtige Links:

Buchungs- und Abrechnungssystem für die Elektronenmikroskopie (BASE). BASE ist eine Eigenentwicklung der BEEM und dient der Online Terminbuchung und projektbezogenen Abrechnung der angefallenen Kosten.

In unserem BEEM Wiki finden Sie informationen rund um die Mikroskope und Methoden der BEEM.

e-Zeit Hamburg - TUHH Arbeitszeiterfassungssystem

TU Hamburg

Technische Universität Hamburg

Betriebseinheit Elektronenmikroskopie (BEEM)

Eißendorfer Straße 42

21073 Hamburg

E-Mail : beem@tuhh.de

Tel : ++49 40 42878 3544

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1. Zeiss Supra VP 55

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2. Leo 1530 (FEG-REM)

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