Diese Seite gibt einen Überblick über unsere Geräte und Methoden und den jeweilig verantwortlichen Mitarbeitern.
Mit Rasterelektronenmikroskopen (REM) kann die Oberfläche von Proben bis hinunter in den Nanometerbereich abgebildet werden. Hierzu wird ein feinfokussierter Elektronenstrahl in einem Raster über die Probenoberfläche geführt. Mehrere unterschiedliche Detektoren liefern hierbei unterschiedliche Informationen über die Probe.
Bei der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM, auch Transmissionselektronenmikroskop) werden die zu untersuchenden Proben durchstrahlt (Transmission). Es ist somit eine direkte Abbildung der Probenstruktur möglich. Die Proben müssen ausreichend dünn sein, welches eine besondere Probenpräparation erfordert. Mit dem TEM können sehr höhe Auflösungen erzielt werden. Durch elastische Beugung der Elektronen an kristallinen Probenbereichen kann auch die Kristallstruktur bestimmt werden.
Neben der reinen Bildgenerierung (Abbildungsverfahren) können Elektronenmikroskope aufgrund der verschiedenartigen Wechselwirkungsprozesse des Elektronenstrahls mit dem Probenmaterial auch für die Beantwortung diverser analytischer Fragestellungen genutzt werden.
Aufgrund der Entstehung von charakteristischer Röntgenstrahlung in der Probe ist es beispielsweise möglich die Elementzusammensetzung einer Probe zu bestimmen (EDX und WDX). Wohingegen aufgrund der Beugung des Elektronenstrahls an kristallinen Strukturen kann die Kristallstruktur und Orientierung bestimmt werden (Beugung im TEM und EBSD).
Die Kombination verschiedener Methoden kann in Verbindung mit modernen Computerprogrammen auch genutzt werden 3D Modelle der Probenstruktur oder sogar einzelner Probenphasen zu generieren.
