Wir gratulieren Trushal zu dieser Ehrung recht herzlich.
Trushals Arbeit trägt signifikant zu einer Verbesserung der dreidimensionalen Rekonstruktion von Nanomaterialien mittels FIB-SEM-Tomographie bei. Bislang stieß diese Methodik insbesondere durch den Shine-Through-Effekt und Mehrdeutigkeit in der Bildintensität an seine Grenzen.
Mit Hilfe des Einsatzes von maschinellem Lernen konnte Trushal diese Qualitätslimitierung überwinden. Bei Trushals neuem Ansatz, stellt der Shine-Through-Effekt kein Hindernis mehr dar, sondern wird sogar als zusätzliche Informationsquelle genutzt. Trushals Arbeit setzt neue Standards für die Qualität und Effizienz für die Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen in den Materialwissenschaften.
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