Das Talos F200X ist ein 200kV Transmissionselektronenmikroskop (TEM) von der Firma FEI (ThermoFisher) mit einer Feldemissionskathode (FEG, engl. „Field Emission Gun“) von der Firma FEI (ThermoFisher).
Das Talos verfügt über eine Ausstattung, die besonders für Untersuchungen in den Materialwissenschaften geeignet ist. Neben der Nutzung zur Aufnahme von „normalen“ TEM und HRTEM (HR = „High Resolution) Bildern kann es auch im Scanning Modus (S-TEM) betrieben werden.
Ein Beispiel für eine HRTEM Aufnahme zeigt das untere Bild auf der rechten Seite. Es handelt sich hier um Titannitrid (TiN) auf Saphir (Al2O3). Das System hat Potential für Hochtemperaturphotovoltaik. Die Probe wurde von Manohar Chirumamilla zur Verfügung gestellt, von Lida Wang präpariert und von Tobias Krekeler untersucht. Im Bild ist gut die epitatkische Beziehung zwischen der Saphiroberfläche (0001) und der (111) Netzebenen der kubischen TiN Struktur zu erkennen. Aufgrund zwei möglicher Orientierungen der (111) Netzebenen auf der (0001) Oberfläche, bilden sich Grenzflächen zwischen den beiden möglichen Orientierungen aus. Im Bild sieht man die FFTs (Fast Fourier Transformation) der Atomanordnungen vom Substrat (unten), einer Orientierung des TiN (oben links) und der anderen (oben rechts).
Eine Besonderheit ist die hervorragende EDX Analytik des Talos F200X, deren Herzstück aus 4 Silicium Drift EDX-Detektoren (SDD) besteht. Aufgrund der 4 Detektoren sind beispielsweise besonders schnelle Element-Mappings möglich. Das Talos F200X erlaubt auch die Erstellung von 3D Modellen von Proben mittels 3D-Tomographie. Hierbei wird eine Reihe von Bildern unter verschiedenen Kippwinkeln aufgenommen. Aus der Bildreihe kann anschließend durch computergestützte Verfahren ein 3D Modell der Probe erzeugt werden.
