23.04.2025

SPIE Defense + Commercial Sensing Konferenz in Orlando, FL

Konferenz in Orlando, FL dabei war!

Im Rahmen der Session “Synthetic Data for Artificial Intelligence and Machine Learning: Tools, Techniques, and Applications III” präsentierte er seinen Vortrag

“Introducing a tool for synthetic defect image data generation: enhancing industrial surface inspection”.

Sein Beitrag zeigt eindrucksvoll, wie synthetisch erzeugte Defektbilder die industrielle Oberflächenprüfung auf das nächste Level heben können.

Vielen Dank an SPIE für eine spannende Veranstaltung und den regen Austausch!

   

 

23.04.2025

SPIE Defense + Commercial Sensing Konferenz in Orlando, FL

Konferenz in Orlando, FL dabei war!

Im Rahmen der Session “Synthetic Data for Artificial Intelligence and Machine Learning: Tools, Techniques, and Applications III” präsentierte er seinen Vortrag

“Introducing a tool for synthetic defect image data generation: enhancing industrial surface inspection”.

Sein Beitrag zeigt eindrucksvoll, wie synthetisch erzeugte Defektbilder die industrielle Oberflächenprüfung auf das nächste Level heben können.

Vielen Dank an SPIE für eine spannende Veranstaltung und den regen Austausch!